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活動簡介

軟體系統的多樣化與複雜化,容易導致開發的軟體系統品質參差不齊。影響軟體品質的因素眾多,整個軟體系統的開發過程,從產品需求制訂、系統架構規劃、程式設計撰寫、到最後的驗收測試等環環相扣。作為軟體品質最後的把關者,良好且完善的測試才能確保軟體系統的品質符合期待。

白箱測試(White-box testing) 與黑箱測試(Black-box testing)為兩種以不同角度來測試軟體的方式。白箱測試以靜態的方式從軟體本身的結構與程式碼去判定其邏輯程序正確性。黑箱測試則是以動態的方式,經由實際運行軟體來測試,不需要了解軟體的內部結構以及資料流程,只需要檢測軟體的輸入、輸出及實際的運行狀況是否符合規格。

本研討會特別邀請國內產學界軟體測試經驗豐富的專家,介紹軟體黑箱與白箱測試技術。期待參加學員更進一步了解軟體黑箱與白箱測試原理與實務,應用於軟體驗收,提升並改善軟體品質,減少使用者抱怨及產品糾紛。

主協辦單位及時間地點
主辦單位 台灣電機電子學會
執行單位 財團法人台灣電子檢驗中心
舉辦時間 2016年 8 月 10 日 (三)14:10~16:50 (13:30報到)
舉辦地點 集思台大會議中心(台北市羅斯福路4段85號B1)達文西廳
報名費用 免費,但需事先報名,主辦單位保留資格審核權(因名額有限,各單位限額二名,敬請見諒。)
報名方式 線上報名(網頁上方,需進行免費註冊)
聯絡窗口 陳小姐 (03)328-0026#568 teresachen@etc.org.tw
行程表
時間 課程內容 講師
13:30~14:00 報到
14:00~14:10 開場
14:10~15:10 白箱測試簡介與實務 國立臺北科技大學 郭教授
15:10~15:30 休息
15:30~16:30 黑箱測試簡介與實務 財團法人台灣電子檢驗中心 陳組長
16:30~17:00 Q&A
※ 主辦單位保留修改、終止、變更活動內容細節之權利,且不另行通知。